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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測(cè)量精度高、 頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試。
二、知識(shí)點(diǎn)
散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計(jì)算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性
三、涉及課程
物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測(cè)量、光電檢測(cè)、激光原理與技術(shù)
四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、 電子散斑干涉原理實(shí)驗(yàn)
2、 圖像預(yù)處理
3、 表面三維圖
4、 壓電陶瓷特性研究一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測(cè)量精度高、 頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試。
二、知識(shí)點(diǎn)
散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計(jì)算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性
三、涉及課程
物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測(cè)量、光電檢測(cè)、激光原理與技術(shù)
四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、 電子散斑干涉原理實(shí)驗(yàn)
2、 圖像預(yù)處理
3、 表面三維圖
4、 壓電陶瓷特性研究一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測(cè)量精度高、 頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試。
二、知識(shí)點(diǎn)
散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計(jì)算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性
三、涉及課程
物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測(cè)量、光電檢測(cè)、激光原理與技術(shù)
四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、 電子散斑干涉原理實(shí)驗(yàn)
2、 圖像預(yù)處理
3、 表面三維圖
4、 壓電陶瓷特性研究一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
電子散斑干涉( ESPI)技術(shù)是一種非接觸式全場(chǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量技術(shù) ,因其通用性強(qiáng)、 測(cè)量精度高、 頻率范圍寬及測(cè)量簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn) ,近年來獲得了快速發(fā)展。電子散斑干涉無損檢測(cè)技術(shù)可以完成位移、 應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測(cè)試。
二、知識(shí)點(diǎn)
散斑、雙光束干涉、電子散斑、散斑干涉、圖像相減、相位差計(jì)算、去噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電陶瓷特性
三、涉及課程
物理光學(xué)、光學(xué)信息預(yù)處理、信息光學(xué)、傅里葉光學(xué)、光學(xué)測(cè)量、光電檢測(cè)、激光原理與技術(shù)
四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1、 電子散斑干涉原理實(shí)驗(yàn)
2、 圖像預(yù)處理
3、 表面三維圖
4、 壓電陶瓷特性研究
更新時(shí)間:2024/9/24 11:07:46