一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)量光致非線性折射率是研究介質(zhì)三階非線性光學(xué)性質(zhì)的重要手段，而測(cè)量非線性折射率的方法已有很多：非線性干涉技術(shù)、簡(jiǎn)并四波混頻、自衍射、橢偏術(shù)及光束畸變測(cè)量等。20世紀(jì)90年代初發(fā)展起了一種Z掃描法，這種測(cè)量方法不僅可以用單光束測(cè)量，而且可以用同一裝置測(cè)出非線性折射率和非線性吸收系數(shù)，即三階非線性極化率的實(shí)部和虛部，因而受到人們的青睞。

二、知識(shí)點(diǎn)

    非線性吸收、三階非線性效應(yīng)、光克爾效應(yīng)、光束的自聚焦

三、涉及課程

非線性光學(xué)、光電檢測(cè)、工程光學(xué)、應(yīng)用光學(xué)、物理光學(xué)

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

      1、  Z掃描法測(cè)量非線性折射率系數(shù)

            2、Z掃描法測(cè)量非線性吸收系數(shù)ZSM-B 三階非線性極化率的Z掃描法參數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)